国芯科技：新一代汽车电子离手检测触控 MCU 产品 CCM4202S-O 内部测试成功
国芯科技公告，公司研发的新一代汽车电子离手检测触控 MCU 产品 CCM4202S-O 在内部测试中获得成功。该芯片基于 40nm EFLASH 工艺开发和生产，集成 32KB SRAM，512KB FLASH，4KB EEPROM(FLASH 模拟），1 路 CAN 总线控制器（CAN FD），1 路 LIN，1 路 UART，1 路 I2C，2 路 SPI，1 个 ADC（总计 15 通道），1 个 TSI（触控模块，总计 16 通道），2 个 PWMT 和其他通用周边模块。该芯片按照汽车电子 Grade2 等级、功能安全 ASIL-B 等级进行设计和生产，具备高可靠性和高安全性，可以应用于苛刻的使用场景。