国芯科技：汽车电子离手检测触控 MCU 新产品内部测试成功
金十数据 6 月 17 日讯，国芯科技公告，公司研发的新一代汽车电子离手检测触控 MCU 产品 CCM4202S-O 内部测试成功。该芯片基于 40nmEFLASH 工艺，集成多种功能模块，封装形式包括 LQFP48/LQFP64 等，有望为解决我国新能源汽车产业方向盘离手检测集成化触控 MCU 芯片的“缺芯”问题做出贡献。